XRF - Laboratorij za Rentgensko fluorescenčno spektrometrijo
Institut "Jožef Stefan",
Jamova 39,
SI-1000 Ljubljana,
Slovenija
T:+38614773687
Vodja: dr. Marijan NečemerSodelavci: prof. dr. Katarina Vogel-Mikuš, dr. Peter Kump
Laboratorij za XRF je bil ustanovljen na Institutu "Jožef Stefan" leta 1992 (ustanovitelj dr. Peter Kump), z namenom ponuditi uporabnikom hitro, nedestruktivno, multielementno karakterizacijo širokega spektra materialov od okoljskih, bioloških, živilskih, farmacevtskih, kovinskih, industrijskih izdelkov in polizdelkov, predmetov kulturne dediščine in arheološkega izvora. XRF omogoča hiter, enostaven in neinvaziven vpogled v elementno sestavo vzorcev, ki so bodisi v trdni (npr. kovine, okoljski, biološki in kemijski vzorci) ali (pol)tekoči obliki (npr. viskozne snovi, kot so barve, med, telesne tekočine).
Določamo lahko širok nabor elementov od Al do U (tudi S, P, Cl, Se, Br, J, redke zemlje Sc, Y, Nd, La, Ce, Pr, Pm, Sm itd). Razpolagamo z več energijsko disperzijskimi spektrometri (EDXRF) z vzbujanjem z radioaktivnimi viri (Fe-55, Cd-109, Am-241) ali rentgenskimi cevmi (Mo, Rh anoda) ter TXRF (Rentgenska spektrometrija s totalnim odbojem).
Analiza trdnih vzorcev poteka direktno ali z minimalno pripravo, ki vsebuje sušenje, drobljenje, upraševanje in stiskanje tablet . (Pol)tekoče vzorce prav tako lahko analiziramo direktno s TXRF.
XRF je komplementarna metoda AAS, OES in ICP-MS, pri čemer je prednost XRF analize, da je relativno enostavna, z majhnimi stroški priprave vzorca, saj kemijska razgradnja s pomočjo kislin in mikrovalov ni potrebna. Vzorcev ni potrebno redčiti, prav tako pa z XRF analizo lahko že po nekaj minutah meritve detektiramo tudi elemente, ki jih v vzorcu v naprej nismo pričakovali. Analiza, pri čemer upoštevamo meritev in kvantitativno analizo spektra, traja nekaj 10 minut, pri TXRF 3 minute. Meja detekcije EDXRF se giblje od 1 do nekaj 10 µg/g, in 0,1 do 1 µg/g v primeru TXRF, odvisno od materiala in posameznega elementa.
Posebnost XRF analize v našem laboratoriju je programski paket za kvantitativno XRF analizo elementne sestave vzorca na osnovi fundamentalnih parametrov, ki jo je razvil dr. Peter Kump. Problem kvantitativne XRF analize je namreč, da se nekateri elementi na detekcijskem sistemu ne odzivajo. Sem sodijo predvsem C, N in O, ki so del ti. »temne matrike« vzorca. S pomočjo inovativne meritve skupne absorpcije na vzorcu, je možno eksperimentalno določiti »temno matriko« vzorca, ki nato služi kot osnova za računanje končnih koncentracij elementov v vzorcu.