Urnik
pospeševalnika

DatumUporabnikŽarekEnergijaŽarkovna linijaIzvorVeč
24.09.20201H1+3 MeV/Multicusp ion source
23.09.2020Kristina Isaković1H1+3 MeV-30° External beamMulticusp ion source
22.09.2020/19F1+30,5 keV/Sputter ion source

Nastavljanje florovega žarka.

21.09.2020/19F1+30,5 keV/Sputter ion source

Nastavljanje florovega žarka.

18.09.2020Servis1H1+//Sputter ion source
17.09.2020Servis1H1+//Sputter ion source
16.09.2020Matej Lipoglavšek19F5+9 Mev - 3 MeV+10° PIXE/RBSSputter ion source
15.09.2020Matej Lipoglavšek14N3+3,626 MeV+10° PIXE/RBSSputter ion source
15.09.2020Matej Lipoglavšek19F5+9 Mev - 3 MeV+10° PIXE/RBSSputter ion source
14.09.2020Matej Lipoglavšek14N2+3,650 MeV+10° PIXE/RBSSputter ion source
11.09.2020Ni meritev.////
10.09.2020Ni meritev////

Ni meritev.

09.09.2020Ni meritev////
08.09.2020Ni meritev////
07.09.2020Ni meritev////
04.09.2020Ni meritev////
03.09.2020/////

Ni meritev.

02.09.2020/////

Ni meritev.

01.09.2020/////

Ni meritev

31.08.2020/1H1+3 MeV-30° External beamMulticusp ion source


 

28.08.2020Žiga Šmit1H1+3,0 Mev-30° External beamMulticusp ion source

Analiza PIXE na arheoloških vzorcih

28.08.2020Matjaž Kavčič1H1+3 MeV-30° External beamMulticusp ion source

Merjenje profila prerezanega žitnega zrna.

27.08.2020Matjaž Kavčič1H1+3,0 MeV-30° External beamMulticusp ion source

Merjenje profila prerezanega žitnega zrna.

26.08.2020Matjaž Kavčič1H1+3,0 MeV-30° External beamMulticusp ion source

Merjenje profila prerezanega žitnega zrna.

25.08.2020Matjaž Kavčič1H1+3,0 Mev-30° External beamMulticusp ion source

Merjenje profila prerezanega žitnega zrna.

24.08.2020Sabina Markelj3He2+4,2 MeV; 3,3 MeV+10° ERDA/RBS/NRADuoplasmatron ion source

Globinsko profiliranje devterija

24.08.2020Sabina Markelj3He1+2,5 MeV; 1,5 MeV; 1,0 MeV; 0,7 MeV+10° ERDA/RBS/NRADuoplasmatron ion source

Globinsko profiliranje devterija

 

21.08.2020Sabina Markelj3He2+4,2 MeV; 3,3 MeV+10° ERDA/RBS/NRADuoplasmatron ion source

Globinsko profiliranje devterija

 

21.08.2020Sabina Markelj3He1+2,5 MeV; 1,5 MeV; 1,0 MeV; 0,7 MeV+10° ERDA/RBS/NRADuoplasmatron ion source

Deuterium depth profiling

20.08.2020Mitja Kelemen1H1+3,0 MeV-10° MicrobeamMulticusp ion source
20.08.2020Sabina Markelj3He1+4,2 MeV; 3,3 MeV+10° ERDA/RBS/NRADuoplasmatron ion source

Globinsko profiliranje devterija