dr. Andreja Šestan Zavašnik
![](/img/2023050814333610/mid/andreja_sestan.jpg?m=1683549216)
Andreja Šestan Zavašnik se je po končanem dodiplomskem študiju na temo mikrostrukturne karakteristike trdnega elektrolita, za pretvorbo odpadne toplote v električno energijo, zaposlila na Oddelku za napredne materiale (K9) kot strokovna sodelavka. Tam se je ukvarjala z razvojem in mikrostrukturno karakterizacijo izboljšanih oksidnih polprevodnih termoelektrikov.
Leta 2014 se je vključila v vzpostavitev in delovanje Centra za elektronsko mikroskopijo in mikroanalizo (CEMM), ki deluje kot infrastrukturni center v okviru Instituta Jožef Stefan. Vzpostavila in vodila je laboratorij za pripravo vzorcev za elektronsko mikroskopijo. Na področju elektronske mikroskopije in naprednih metod priprave vzorcev je usposabljala študente, doktorske študente in podoktorske raziskovalce z različnih fakultet in inštitutov. Sodelovala je pri domačih in mednarodnih raziskovalnih projektih, kot tudi v sodelovanju z različnimi industrijskimi partnerji. Po enoletni znanstveni izmenjavi na Max-Planck-Institut für Eisenforschung (MPIE) se je vrnila na IJS in nadaljevala z delom na njenem doktorskem delu o mikrostrukturni analizi in vrednotenju volframa in kompozitov na osnovi volframa za fuzijske aplikacije. Andreja se je leta 2023 pridružila ekipi Mikroanalitičnega centra kot strokovna sodelavka.
Njeni trenutni projekti so osredotočeni na interdisciplinarno uporabo tehnik analitične elektronske mikroskopije in rentgenske difrakcije na področju ionske implantacije. Jedro njenih raziskav ostajajo napredne metode elektronske mikroskopije, s poudarkom na analitičnih metodah vrstične elektronske mikroskopije.