Molekularno slikanje na podceličnem nivoju z metodo MeV-SIMS

Glavni cilj projekta je razvoj nove metode molekularnega slikanja MeV-SIMS, ki bi omogočila slikanje težkih molekul (težjih od 1 kDa) na podmikronski in podcelični ravni. Tako zmogljiva metoda molekularnega slikanja bi bila posebej zanimiva za vede kot so medicina, biomedicina in biologija, kjer prostorske razporeditve biomolekul še vedno ni mogoče ustrezno izmeriti, kljub izredno pomembni informaciji, ki jo ta podaja.

V okviru projekta nameravamo razviti rutinsko dostopno metodo masnega slikanja, kjer bi generirali ione z energijo MeV na napraševalnem izvoru ionskega pospeševalnika, ki bi jih nato pospešil do končne energije. Nato bi žarek oklestili na zelo nizko intenziteto in ga v kontinuiranem načinu pošiljali do tarče. Slednje bi omogočilo fokusacijo žarka na velikost med 500nm do 1um. Primarne ione bi nato detektirali prek sekundarnih elektronov. Ko bi bil elektron zaznan, bi dvignili napetost na vzorcu in pozitivni ioni bi bili pospešeni v masni spektrometer, ki deluje po načinu časa preleta.

Prav tako nameravamo razviti moderno metodo priprave vzorcev, ki bi omogočila podmikronsko slikanje nepoškodovanih celic, zmogljivost metode pa bi demonstrirali z analizo rastlinskih tkiv. Da bi še dodatno povečali pridelek sekundarnih ionov, bomo raziskali tudi različne načine priprave vzorcev, ki so se pri analizi z navadnim SIMS izkazali kot učinkovite pri boljši efektivnosti metode.